d版加芯片搭建一个“模拟”的芯片工作环境，把芯片的接口都引出，测试芯片的功能，或者在各种严苛环境下看芯片能否正常工作，需要运用的设备主要是仪器仪表，需要制作的主要是evb评估板。

如果芯片的性能没有问题的话，紧接着开始晶圆cp测试，测试芯片的成品率。

最后一个阶段就是可靠性测试，主要就是针对芯片施加各种苛刻环境，比如esd静电，就是模拟人体或模拟工业体去给芯片加瞬间大电压，然后在高温下加速芯片老化，估算芯片的寿命。

可靠性测试需要时间比较长，全套流程下来，至少需要3~5天的时间，而段云现在主要就是查看板级测试以及晶圆cp测试的结果。

而今晚的测试结果确实没让段云失望，在40分钟的测试时间里，第2代的nand闪存芯片各项指标都非常的良好，完全符合设计的要求。

虽然还没有完成最终的可靠性测试，但是走到这一步，已经算是基本成功了，如果可靠性没有问题的话，那么一微米制程的nand闪存芯片就算是研发成功了。

测试台上， pcd版模拟器灯光闪动，在旁边的显示器上，很快就出现了一排排的参数，数字小幅度来回波动，显示一切正常。

“没问题，成了……”此时的黄令仪虽然表情平静，但是内心却非常的激动，控制数据台的手指也有些微微颤抖。

“祝贺大家！”到了这一刻，短语的脸上也露出了笑容，和参与测试的几个工程师挨个握手。

一时间，实验室中想起了热烈的掌声，每个人的脸上都洋溢着笑容，为了今天这一刻，很多人付出了非常大的心血，而他们也创造了一个奇迹，将摩尔定律整整压缩了一半时间。

“今晚大家回去好好睡一觉，明天下午我会安排一个表彰会，对大家承诺的奖金我都会现场兑现。”段云对众人说了一句，然后转头看向黄令仪，对她说道“你的下一个任务就是把论文写出来，我会先将这项技术申请国际专利，等专利进入审核程序后，你的文章就可以发表了……”